ニュース・レポート〜静電破壊防止に新手法， ＮＥＣが電荷量測定を提案
日経エレクトロニクス 第756号 1999.11.1
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第756号（1999.11.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全1297字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （19kb） |
| 雑誌掲載位置 | 25ページ目 |
ＮＥＣは，ＥＳＤ（ｅｌｅｃｔｒｏｓｔａｔｉｃ ｄｉｓｃｈａｒｇｅ）耐性の指標として，これまでの電圧値よりも電荷量の方が有効であると提案した。同社は電荷量の計測器などを開発し，春日電機と東京電子交易が１９９９年１２月から出荷する。 「ＬＳＩやハード・ディスク装置のヘッド，液晶パネルなどの量産工場で，静電破壊を原因とした初期不良率が高く，生産ラインの立ち上げに苦しむケースが増えている。」（ＮＥＣ デバ…
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