特集 トビラ〜見えた！ＥＭＩ対策のツボ
日経エレクトロニクス 第745号 1999.6.14
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第745号（1999.6.14） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全235字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （121kb） |
| 雑誌掲載位置 | 131ページ目 |
ＥＭＩ対策に費やす労力が一気に軽減される可能性が出てきた。放射雑音の発生源がほぼ特定できたからだ。それはＬＳＩの電源電流である。これがボードの電源／接地層を流れることで強い電磁雑音が放射される。今後電子機器メーカとＬＳＩメーカはスクラムを組み電源電流の低減や対策手法の確立に乗り出す。（山下 勝己，新井 将之）第１部＜機器メーカの苦悩＞ＥＭＩ対策がついに核心に，電源／接地層にメスが入る１３２第２部＜…
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特集 第１部＜見えた！ＥＭＩ対策のツボ＞〜ＥＭＩ対策がついに核心に，電源／接地層にメスが入る
特集 第２部＜見えた！ＥＭＩ対策のツボ＞〜ＥＭＩ対策の強化で 差異化を図るＬＳＩメーカ
解説 光ディスク〜次世代オーディオ， 普及への道
解説 ハード・ディスク装置〜再燃する ＨＤＤの限界論
開発ストーリ 携帯電話〜コニーちゃんって なんだ？
