ニュース・レポート〜　分解能が高い非接触電流プローブの開発にＮＥＣが取り組んだ背景には，電子機器が放射する電磁雑音を抑制する，いわゆるＥＭＩ（ｅｌｅｃｔｒｏ−ｍａｇｎｅｔｉｃ　ｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅ）対策が年々難しくなっていることがある。一般に電子機器メーカでは，プリント回路基板の配線パターンを工夫したり，
日経エレクトロニクス　第735号　1999.1.25

この記事の情報
掲載誌	日経エレクトロニクス　第735号（1999.1.25）
ページ数	2ページ　（全587字）
形式	PDFファイル形式　（39kb）
雑誌掲載位置	31〜32ページ目

ＮＥＣは，最小１．３ｍｍ間隔に配置したＬＳＩ端子や配線パターンを流れる電流を測定できる電流プローブを開発した。磁界を検出して電流を測定する非接触方式を採用。電子機器が放射する電磁雑音の原因究明に使える。図１　従来の非接触電流プローブの構造同軸ケーブルを小さく丸めた構造である。この構造では，真円を保ちながら小型にすることが難しい。このため，分解能は３ｍｍ程度が限界だった。図２　開発した非接触電流プロ…