駄目なテストのありがち６パターン〜場当たり的なテスト設計
日経SYSTEMS　第302号　2018.6.1

この記事の情報
掲載誌	日経SYSTEMS　第302号（2018.6.1）
ページ数	6ページ　（全7700字）
形式	PDFファイル形式　（1814kb）
雑誌掲載位置	68〜73ページ目

第３回テスト設計のメイン工程ともいえるテストケースの作成では、典型的な“駄目なテスト”のパターンがある。どのようにテストケースを作成すべきかを検討せずに作り始めてしまう、といったものだ。テストケースの作り方を担当者の判断任せにすると、テスト条件やテスト観点が曖昧で不具合摘出が不十分なままテストが終わってしまう恐れがある。吉澤　麻由　ＳＨＩＦＴ　エンタープライズビジネスユニット　技術支援グループ春田…