駄目なテストのありがち6パターン〜生産性が低い
日経SYSTEMS 第300号 2018.4.1
掲載誌 | 日経SYSTEMS 第300号(2018.4.1) |
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ページ数 | 6ページ (全7973字) |
形式 | PDFファイル形式 (4025kb) |
雑誌掲載位置 | 76〜81ページ目 |
第1回システムの品質を左右するソフトウエアテストだが、うまくできていないという現場が多い。そうした“駄目なテスト”を6パターンに分類して、テスト専門家の筆者陣が問題を回避するためのノウハウを伝授する。今回は「生産性が低い」というパターンについて解説しよう。和田 秀之 SHIFT ビジネストランスフォーメーション事業本部 サービス事業部 コアテクノロジービジネスユニット 第1グループ内藤 義明 SH…
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