特集 トビラ〜テストの死角
日経SYSTEMS 第116号 2002.12.1
掲載誌 | 日経SYSTEMS 第116号(2002.12.1) |
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ページ数 | 2ページ (全322字) |
形式 | PDFファイル形式 (249kb) |
雑誌掲載位置 | 118〜119ページ目 |
総論● 119Part1●盲点と対策 124時間,モジュール間連携,異常値,本番環境とのギャップに盲点が潜むPart2●予防 134周到に計画し時間と人を重点配分バグを生み出す上流をたたけ他人の情報が表示される,想定外データでエラーが発生する,データの解釈が食い違う,ある日突然停止する−−人間が作る以上,バグはなくならない。一方でそれを摘出すべきテストは,短期開発と技術の高度化のため,より困…
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