New Products〜0.003cd/m2の輝度を測定可能
日経マイクロデバイス 第272号 2008.2.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第272号(2008.2.1) |
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ページ数 | 1ページ (全545字) |
形式 | PDFファイル形式 (361kb) |
雑誌掲載位置 | 135ページ目 |
測定可能な最低輝度が0.003cd/m2の分光放射輝度計(図4)。同社従来機種の最低測定輝度は1cd/m2だった。このため,有機ELパネルの測定にも対応する。ピーク輝度を300cd/m2とした場合,10万:1のコントラストでの測定が可能となった。低輝度測定が可能になったのは,高感度のCCDセンサーを使用し,CCD駆動回路を最適化したことで,電気的な雑音を大幅に低減したことによる。またヒート・シン…
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