Ｋｅｙ Ｗｏｒｄ キー・ワード〜『テストベンチ』
日経マイクロデバイス 第268号 2007.10.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第268号（2007.10.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全908字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （167kb） |
| 雑誌掲載位置 | 15ページ目 |
テストベンチとは，ＬＳＩの論理検証で，検証する対象の周辺回路の動きを表したプログラムである。このプログラムは，検証対象の論理回路に入力するデータを発生したり，検証対象が出力したデータを解析したりする（図１）。かつてＬＳＩの論理検証をゲート・レベルで実行していた時代，テストベンチは，“０”や“１”の論理値を並べた入力パターンや出力パターンだった。論理設計の抽象度がＲＴＬ（ｒｅｇｉｓｔｅｒ ｔｒａｎ…
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