Ｎｅｗ　Ｐｒｏｄｕｃｔｓ　実動作に近い条件で計測〜実動作に近い条件で計測
日経マイクロデバイス　第264号　2007.6.1

この記事の情報
掲載誌	日経マイクロデバイス　第264号（2007.6.1）
ページ数	1ページ　（全516字）
形式	PDFファイル形式　（522kb）
雑誌掲載位置	134ページ目

　デバイスの電気的特性を実動作に近い状態で計測できるようにした半導体パラメトリック・アナライザ（図２）。ＣＭＯＳを構成するトランジスタの電流−電圧特性に加えて，フラッシュ・メモリーや高出力ＲＦ（無線周波）デバイスなどの電気的特性を測定できる。計測条件を実際の動作状態に近付けるために，デバイスに入力する電圧波形の自由度を高めた。具体的には，新規のパルス・ジェネレータ「４２０５−ＰＧ２」を搭載すること…