Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜「検証漏れは許さない」独ＯｎｅＳｐｉｎが説くＲＴＬ検証手法
日経マイクロデバイス 第263号 2007.5.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第263号（2007.5.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全351字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （342kb） |
| 雑誌掲載位置 | 107ページ目 |
独ＯｎｅＳｐｉｎ Ｓｏｌｕｔｉｏｎｓ ＧｍｂＨのＭａｎａｇｉｎｇ Ｄｉｒｅｃｔｏｒ ａｎｄ Ｃｈｉｅｆ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ ＯｆｆｉｃｅｒのＷｏｌｆｒａｍ Ｂｕｔｔｎｅｒ氏は，主力製品であるフォーマル検証技術を使ったＲＴＬ機能検証ツール「３６０ Ｍｏｄｕｌｅ Ｖｅｒｉｆｉｅｒ （３６０ ＭＶ）」について，「これまでの検証手法と違って漏れがない」と言う。同氏は，まずプロパティを記述し，それを使っ…
記事の購入（ダウンロード）
購入には会員登録が必要です 会員登録はこちら
価格 330円（税込）
他のIDで購入する
G-Search ミッケ！は雑誌を記事ごとに販売するサービスです。
この記事は「1ページ（全351字）」です。ご購入の前に記事の内容と文字数をお確かめください。
（注）特集のトビラ、タイトルページなど、図案が中心のページもございます。
Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜メモリー・コントローラの設計に新規格米Ｄｅｎａｌｉがインタフェース仕様を公表
Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜トヨタ自動車，米Ｔｅｓｔ Ａｄｖａｎｔａｇｅの解析ソフトウェアを導入
Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜「もっとクロック・ゲーティングできます」米Ｃａｌｙｐｔｏが低電力化設計ツール発売
Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜２００６年のファブレス半導体メーカーの売上高前年比２７％成長
Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜回路図を共有し磨き上げるコミュニティ・サイト「＠ｅｌｅ」がサービス開始
