Ｋｅｙ　Ｗｏｒｄ　キー・ワード〜『オンチップ・モニタリング』
日経マイクロデバイス　第262号　2007.4.1

この記事の情報
掲載誌	日経マイクロデバイス　第262号（2007.4.1）
ページ数	1ページ　（全806字）
形式	PDFファイル形式　（192kb）
雑誌掲載位置	17ページ目

　ＬＳＩ内の電圧や遅延，温度といった各種パラメータをリアルタイムで計測するオンチップ・モニタリングの実用化研究が盛んになってきた。従来，各種パラメータの変動には，設計で対応するのが主流だった。テスト回路やシミュレーションによって変動を予測し，フィールドで不具合が発生しないように余裕度の大きい設計をしていた。ここへ来て，プロセスの微細化によって変動幅が大きくなり，設計だけでの対応が難しくなってきた。…