Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜米Ｓｅｑｕｅｎｃｅの動的電圧降下解析ツール適用結果をルネサスが発表
日経マイクロデバイス 第260号 2007.2.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第260号（2007.2.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全335字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （322kb） |
| 雑誌掲載位置 | 95ページ目 |
ルネサス テクノロジは，ＬＳＩの電源グリッドの電圧降下などを動的に解析するＥＤＡ（ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ ｄｅｓｉｇｎ ａｕｔｏｍａｔｉｏｎ）ツール「ＣｏｏｌＴｉｍｅ」の適用結果を発表した。同社では数年前から米Ｓｅｑｕｅｎｃｅ Ｄｅｓｉｇｎ， Ｉｎｃ．のＣｏｏｌＴｉｍｅを製品設計に適用している。発表の前半は「パッケージのＬＣＲ込みのシミュレーション」や「デカプリング容量セルの挿入効果のシミュレーシ…
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