Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜「ＳＳＴＡは未熟だから…」ＮＥＣエレが配線バラつき込みのタイミング解析法を実用化
日経マイクロデバイス 第260号 2007.2.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第260号（2007.2.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全488字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （322kb） |
| 雑誌掲載位置 | 94ページ目 |
ＮＥＣエレクトロニクスは，ＬＳＩ配線の製造バラつきを反映したタイミング解析を実施する手法を開発し，６５ｎｍチップの設計から適用を始めた。５５ｎｍ世代のチップ開発では本格的に適用する。この手法の特徴は，ＳＴＡ（ｓｔａｔｉｃ ｔｉｍｉｎｇ ａｎａｌｙｚｅｒ）を使いながらも，実際に近いバラつきを織り込んだタイミング解析が実行できることである。バラつきを考慮したタイミング解析では，ＳＳＴＡ（ｓｔａｔｉｓ…
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