Tech−On!Ranking[EDA]〜失地回復を狙う米Cadence 超並列実行型のDRCツールに寄せる思い
日経マイクロデバイス 第246号 2005.12.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第246号(2005.12.1) |
---|---|
ページ数 | 1ページ (全357字) |
形式 | PDFファイル形式 (249kb) |
雑誌掲載位置 | 185ページ目 |
米Cadence Design Systems, Inc. Vice PresidentのMark Miller氏は開口一番こう切り出した。「LSIのマスク・レイアウト・データのDRC(design rule check)は,われわれの原点の一つだ。当社はDRCの米ECAD, Inc.と自動レイアウト・ツールの米SDA Systems社の合併からスタートした」(同氏)。ECADが開発したDRCツ…
記事の購入(ダウンロード)
購入には会員登録が必要です 会員登録はこちら
価格 330円(税込)
他のIDで購入する
G-Search ミッケ!は雑誌を記事ごとに販売するサービスです。
この記事は「1ページ(全357字)」です。ご購入の前に記事の内容と文字数をお確かめください。
(注)特集のトビラ、タイトルページなど、図案が中心のページもございます。
- Tech−On!Ranking[EDA]〜「アナログICもSiPへ」 ポルトガルChipIdeaの選択
- Tech−On!Ranking[EDA]〜新世代バス「OCP/Sonics」利用のASIC 川崎マイクロがプリンタを狙い発表
- Watcher[International] ウオッチャ〜9月の世界半導体売上高 前月比5.2%増と好調 WSTSは年間予測を上方修正
- MEMS Global View ウオッチャ〜3種のクルマ向けセンサーに期待
- Watcher[International] ウオッチャ〜台湾・中国 中根レポート Compal傘下のToppoly Philipsの中小型液晶事業買収へ グループの携帯電話会社に好影響