Ｗａｔｃｈｅｒ［Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ］〜１０Ｇビット／秒を超える時代の技術 「Ｄｅｓｉｇｎ Ｃｏｎ ２００５」に見た
日経マイクロデバイス 第237号 2005.3.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第237号（2005.3.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全1146字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （37kb） |
| 雑誌掲載位置 | 136ページ目 |
２００５年２月初頭，米国シリコンバレーにある「Ｓａｎｔａ Ｃｌａｒａ Ｃｏｎｖｅｎｔｉｏｎ Ｃｅｎｔｅｒ」で「Ｄｅｓｉｇｎ Ｃｏｎ ２００５」が開催された。半導体設計やパッケージング，プリント基板設計まで，さまざまな分野の設計エンジニアが一堂に会する，ユニークな会議／展示会である。主催はＩＥＣ（Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ Ｃｏｎｓｏｒｔｉｕｍ）である。 会場の総面積は９万…
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