ＷＥＢ Ａｃｃｅｓｓ Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜ＳＲＡＭやＭＲＡＭの テストに新手法
日経マイクロデバイス 第234号 2004.12.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第234号（2004.12.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全369字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （46kb） |
| 雑誌掲載位置 | 175ページ目 |
米ノース・カロナイナ州で開催されたテスト関連の学会／展示会「Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｔｅｓｔ Ｃｏｎｆｅｒｅｎｃｅ ２００４（ＩＴＣ２００４）」のＳＥＳＳＩＯＮ ５「Ｍｅｍｏｒｙ Ｔｅｓｔｉｎｇ」では，メモリー・テストで新たな手法が提案された。３件の講演はいずれも新規性があった。米Ｉｎｔｅｌ Ｃｏｒｐ．はＳＲＡＭセルの不良解析手法について講演した。オランダＤｅｌｆｔ Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ ｏ…
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