ＷＥＢ　Ａｃｃｅｓｓ　Ｒａｎｋｉｎｇ［ＥＤＡ］〜エレクトロマイグレーションを制御し　チップを自律再構成する技術を　米ＩＢＭが発表
日経マイクロデバイス　第231号　2004.9.1

この記事の情報
掲載誌	日経マイクロデバイス　第231号（2004.9.1）
ページ数	1ページ　（全341字）
形式	PDFファイル形式　（66kb）
雑誌掲載位置	93ページ目

　米ＩＢＭ　Ｃｏｒｐ．は，「ｅＦＵＳＥ」と名付けた，チップの自律再構成技術を発表した。チップ上に問題個所が見つかるなどすると，ｅＦＵＳＥを使い回路を自動的に切り換える。不良発生時の自己修復や消費電力の調整などに使う。自律的な再構成技術は他社を含めて実用化されているが，今回のｅＦＵＳＥでは，エレクトロマイグレーションをベースとした技術を使う点でユニークである。一般にエレクトロマイグレーションと言えば…