Ｉｎｔｅｒｖｉｅｗ〜脱系列と業界再編で急浮上，ＣＣＤが加速
日経マイクロデバイス　第221号　2003.11.1

この記事の情報
掲載誌	日経マイクロデバイス　第221号（2003.11.1）
ページ数	2ページ　（全2613字）
形式	PDFファイル形式　（76kb）
雑誌掲載位置	184〜185ページ目

安藤電機との統合から１年，横河電機のテスター事業が好調である。テスター市場全体がピークだった２０００年に対して２００３年は２０〜３０％減にとどまる中，横河電機は「過去最高になるだろう」（同社取締役・専務執行役員，ＡＴＥ事業本部長の勝部泰弘氏）とする。ＣＣＤテスターが好調に推移し，安藤電気から受け継いだメモリー・テスターも回復してきた。横河電機　取締役・専務執行役員，ＡＴＥ事業本部長勝部　泰弘　氏−…