Ｗａｔｃｈｅｒ［Ｆｉｎａｎｃｉａｌ］〜製造技術の価値が　大きくシフト　テスターに続き露光でも
日経マイクロデバイス　第218号　2003.8.1

この記事の情報
掲載誌	日経マイクロデバイス　第218号（2003.8.1）
ページ数	2ページ　（全1993字）
形式	PDFファイル形式　（57kb）
雑誌掲載位置	130〜131ページ目

半導体製造技術の価値が大きく変化している。微細化一辺倒だった時代の経営手法を続けていては，技術の変わり目で収益が急速に悪化する可能性が高い。技術価値のシフトをいち早く見極めて思い切った技術政策を実行したメーカーだけが，新たなビジネス・チャンスをモノにすることができる。技術価値のシフトは以前のテスターに続いて，露光装置でも起きている。変化をチャンスに変えるための決断が経営者には必要と，著者は言う。（…