μレポート［パッケージ］〜不況下の今こそ　半導体メーカーが積極的な　企業戦略を固める時期
日経マイクロデバイス　第196号　2001.10.1

この記事の情報
掲載誌	日経マイクロデバイス　第196号（2001.10.1）
ページ数	1ページ　（全1704字）
形式	PDFファイル形式　（23kb）
雑誌掲載位置	150ページ目

テストシステムＬＳＩＳｉファウンドリ「テストを高効率に実施していくことが肝要である」。システムＬＳＩを強化しようとする国内ＬＳＩメーカーは，各社ともこのようにテストの重要性を訴える。ところが実際には，テスト効率を高める手法はなかなか普及しないのが現状である。１０月３０日〜１１月１日に米国ボルティモアで開かれる学会「Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ　Ｔｅｓｔ　Ｃｏｎｆｅｒｅｎｃｅ　（ＩＴＣ）」では高効率テ…