トピックス・テクノロジ 〜ＩＣ試験装置の不具合を解消
日経ものづくり 第532号 1999.1.1
| 掲載誌 | 日経ものづくり 第532号（1999.1.1） |
|---|---|
| ページ数 | 2ページ （全2178字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （246kb） |
| 雑誌掲載位置 | 50〜51ページ目 |
ＴＲＩＺコンサルティング会社の米Ｉｄｅａｔｉｏｎ Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ社は，米ナショナルセミコンダクター社が抱えていたＩＣ試験装置の不具合を，ＴＲＩＺを使って解消したことを明らかにした。９８年１２月１日に開催した「ＴＲＩＺシンポジウムｉｎ東京」（主催：産能大学）で詳細に発表した。 試験対象となる製品は，樹脂製のパッケージに封入された小型アウトライン８ピン（ＳＯ−８）と呼ばれるアナログＩＣで…
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