ＮＥレポート〜Ｐａｒａｓｏｆｔ社のメモリ・エラー自動検出技術，オーバーヘッド抑え，実機上で利用可能に
日経エレクトロニクス 第1027号 2010.4.5
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第1027号（2010.4.5） |
|---|---|
| ページ数 | 2ページ （全2124字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （321kb） |
| 雑誌掲載位置 | 12〜13ページ目 |
米Ｐａｒａｓｏｆｔ Ｃｏｒｐ．は，Ｃ／Ｃ＋＋用の自動テスト・ツールの新版「Ｐａｒａｓｏｆｔ Ｃ＋＋ｔｅｓｔ ７．３」に，Ｃ言語で開発したプログラムのメモリ関連エラーを実行時に検出できる機能を新たに搭載した。単体テスト時やアプリケーション全体のテスト時に，自動的にメモリ・エラーを検出できる（図１）。具体的には，確保したメモリを解放できなくなる「メモリ・リーク」，メモリの解放時にポインタの初期化を忘…
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