特集 どう付き合うか ＳＳＤ〜第２部＜解決策＞ 制御ＬＳＩ，ＯＳ，メモリ 総力を結集して信頼性向上へ
日経エレクトロニクス 第1002号 2009.4.20
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第1002号（2009.4.20） |
|---|---|
| ページ数 | 8ページ （全9119字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （2422kb） |
| 雑誌掲載位置 | 44〜51ページ目 |
微細化や超多値化とともに低下し続けるＮＡＮＤフラッシュ・メモリの品質。問題解決に向けて，ＯＳ，コントローラＬＳＩ，キャッシュ・メモリ，ＮＡＮＤフラッシュ・メモリなどＳＳＤにかかわるすべての階層のメーカーが動きだしている。 「３０ｎｍ世代や２Ｘｎｍ世代に微細化したＮＡＮＤフラッシュ・メモリ，および３ビット／セル品や４ビット／セル品の使いこなしは容易ではない。どこがいち早く使いこなせるか，その勝負は既…
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