評価/測定技法〜測定のトラブルシューティング事例 評価技術を通してEMCの理解を深める
日経エレクトロニクス 第968号 2007.12.31
掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第968号(2007.12.31) |
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ページ数 | 8ページ (全11540字) |
形式 | PDFファイル形式 (884kb) |
雑誌掲載位置 | 54〜61ページ目 |
EMCを難しいものにしている要因の一つが,評価/測定技術だろう。機器の動作や測定条件などによって,電磁雑音の放射強度はかなり変化する。EMIの規格では,測定値は常に「再現可能な最大値」でなければならないと規定しており,重大な見落としがあれば,その責任は自分にのしかかってくる。技術者が実際に陥りやすい問題事例を挙げながら,評価の目的や測定の基本技術を解説する。同時に,設計と評価の連携が重要になること…
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