ＮＥＴｓ〜知っておきたいソフト・エラーの実態
日経エレクトロニクス 第903号 2005.7.4
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第903号（2005.7.4） |
|---|---|
| ページ数 | 11ページ （全17035字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （569kb） |
| 雑誌掲載位置 | 145〜155ページ目 |
宇宙線などに起因するＬＳＩのソフト・エラーの影響が，徐々に広がっている。半導体メーカーの技術者がこれまで以上に注意を払うようになってきたほか，機器開発者にとっても，その実態の把握が不可避となりつつある。この問題の背景や評価方法の動向などについて，研究者に解説してもらう。（堀切 近史＝本誌）戸坂 義春富士通研究所Ｃ２プロジェクト部 先端ＣＭＯＳ開発部 主任研究員 ある種の放射線がＬＳＩに衝突すること…
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