ＮＥＴｓ連載講座 ベンチマーク・テストの歴史（４）〜ベンチマーク・テストの歴史（４） コンフィギュアラブル・プロセサが 新たな評価基準を求め始める
日経エレクトロニクス 第899号 2005.5.9
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第899号（2005.5.9） |
|---|---|
| ページ数 | 8ページ （全8194字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （325kb） |
| 雑誌掲載位置 | 102〜109ページ目 |
２０年以上続いてきたベンチマーク・テストの進化は，ＥＥＭＢＣという使い勝手のよいツールを生み出すことにつながった。アーキテクチャを変更可能なコアの登場や，低消費電力に対する機器設計者の注目が，ベンチマーク・テストのさらなる進化のキッカケとなりそうだ。（本誌）Ｓｔｅｖｅ Ｌｅｉｂｓｏｎ米Ｔｅｎｓｉｌｉｃａ，Ｉｎｃ． 米ＥＤＮ誌の記事を端緒とするベンチマーク・テストの発展は，同誌の編集者であるＭａｒｋ…
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