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NETs講座〜電源設計 90nm世代への移行で急浮上する LSIのパワー・インテグリティ問題
日経エレクトロニクス 第895号 2005.3.14
掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第895号(2005.3.14) |
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ページ数 | 6ページ (全6672字) |
形式 | PDFファイル形式 (287kb) |
雑誌掲載位置 | 132〜137ページ目 |
半導体製造技術の微細化に伴い,LSIの電源電圧がますます低下している。+1V動作が実用範囲に入る90nm世代では,同時スイッチングなどで発生する電源雑音が動作に大きな影響を及ぼすようになる。電源の安定性(パワー・インテグリティ)を保つLSIの設計手法について解説する。(本誌)David Maliniak米Electronic Design誌Electronics Design Automation…
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