New Products〜ドライバIC用検査装置 同時に4個の試験が可能
日経エレクトロニクス 第889号 2004.12.20
掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第889号(2004.12.20) |
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ページ数 | 1ページ (全251字) |
形式 | PDFファイル形式 (228kb) |
雑誌掲載位置 | 55ページ目 |
アドバンテストは,1280×1024画素(SXGA)や1600×1200画素(UXGA)といった多画素の液晶パネルに利用するソース・ドライバICを最大で4個同時に試験できる検査装置「T6372」を発売した。同社従来品では最大2個だった。最大1536端子まで実装可能にしたことで,多画素の液晶パネル向けとして一般的な出力端子数384のソース・ドライバICを同時に4個試験できるようにした。TEL(03)…
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