Ｓｅｌｅｃｔｅｄ　Ｓｈｏｒｔｓ〜測定時間は従来比で最大１／２０　松下とＳＩＩが有害物質測定システムを開発
日経エレクトロニクス　第887号　2004.11.22

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掲載誌	日経エレクトロニクス　第887号（2004.11.22）
ページ数	1ページ　（全460字）
形式	PDFファイル形式　（269kb）
雑誌掲載位置	48ページ目

　松下電器産業とエスアイアイ・ナノテクノロジーは，従来比で最大１／２０と短時間で有害物質の含有量を測れる測定システムを開発した。例えば，ＲｏＨＳ指令で対象となる６物質すべての含有量を１分〜２分で測定できる。従来は約１２分かかっていた。測定には，蛍光Ｘ線分析装置を利用する。ＲｏＨＳ指令への対応に追われる松下電器の各工場から「測定時間がもっと短くならないと，測定が追い付かない」という意見が数多く挙がっ…