Ｎｅｗ Ｐｒｏｄｕｃｔｓ〜パネル用試験装置 数十秒内でサブピクセルまでの検査が可能
日経エレクトロニクス 第886号 2004.11.8
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第886号（2004.11.8） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全280字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （225kb） |
| 雑誌掲載位置 | 59ページ目 |
米Ａｇｉｌｅｎｔ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ，Ｉｎｃ．は，中小型の液晶パネルや有機ＥＬパネル向け試験装置「Ａｇｉｌｅｎｔ ８８０００ ＨＳ−１００」を発売した。買収した米ＩＢＭ Ｃｏｒｐ．のテスタ事業部門の製品に，Ａｇｉｌｅｎｔ社の微小電流測定技術を盛り込んだ。ＴＦＴパネルのサブピクセルを検査できる。ＱＶＧＡ品の場合，サブピクセル中のＴＦＴや画素内の容量，配線などの試験をパネル１枚当たり数秒〜数十秒…
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