Ｗｈａｔ’ｓ　Ｎｅｗ〜ＬＳＩの配線１本ずつ測定　ＮＥＣの電磁雑音プローブ
日経エレクトロニクス　第872号　2004.4.26

この記事の情報
掲載誌	日経エレクトロニクス　第872号（2004.4.26）
ページ数	2ページ　（全3381字）
形式	PDFファイル形式　（82kb）
雑誌掲載位置	32〜33ページ目

　ＵＳＢ２．０やＰＣＩ　Ｅｘｐｒｅｓｓに代表される高速シリアル・インタフェースの機器への搭載が始まっている今，放射電磁雑音の高調波成分が急増している。多くの機器設計者の間では「ＬＳＩからは放射電磁雑音が出るもの」ということが半ば常識化している。そのためデカップリング・コンデンサなどをＬＳＩに外付けすることで，この雑音を抑える対症療法が主流となっている。しかし，こうした対策にも限界がある。デカップリ…