Ｎｅｗ Ｐｒｏｄｕｃｔｓ〜ＣＣＤ型固体撮像素子用テスタ 試験速度は８０ＭＨｚ
日経エレクトロニクス 第861号 2003.11.24
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第861号（2003.11.24） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全212字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （97kb） |
| 雑誌掲載位置 | 55ページ目 |
アドバンテストは，試験速度を同社従来品比２倍の８０ＭＨｚに高めたＣＣＤ型固体撮像素子のテスタ「Ｔ８５７１」を発売した。最大８個までの素子を同時に測定できる。測定する素子ごとに専用の画像処理回路と画像を記憶するメモリを搭載する。各メモリは最大６７００万画素分のデータを一度に記録可能である。ＴＥＬ（０３）３３４２−７５０５４個同時に測定可能なテスタは４５０万円から出荷中ｗｗｗ．ａｄｖａｎｔｅｓｔ．ｃｏ…
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