What’s New〜携帯電話の放射雑音にメス ロームがインタフェースIC
日経エレクトロニクス 第855号 2003.9.1
掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第855号(2003.9.1) |
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ページ数 | 2ページ (全3266字) |
形式 | PDFファイル形式 (97kb) |
雑誌掲載位置 | 26〜27ページ目 |
「折り畳み式携帯電話機のヒンジ部で発生する放射雑音は通話品質を劣化させるため,その対策にいつも頭を悩ませている」(国内携帯電話機メーカーの開発技術者)。 今や携帯電話機に使用する液晶パネルはQVGA,カメラ・モジュールも100万画素が標準になりつつある。こうした高画素・高精細化に伴い,携帯電話機の内部の配線を流れるデータ量が増える。そのため,この配線が集中するヒンジ部において放射雑音や配線数の増…
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