Ｎｅｗ Ｐｒｏｄｕｃｔｓ〜検査装置 不具合は赤外線カメラで発見
日経エレクトロニクス 第837号 2002.12.16
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第837号（2002.12.16） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全218字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （66kb） |
| 雑誌掲載位置 | 55ページ目 |
フォトンダイナミクスは，ハンダ付けやＬＳＩの不良を検査する装置「ＩＳＩＳ」を発売した。動作中の基板の熱放射を赤外線カメラで一つひとつ撮影し画像認識する。正常動作している他の個体と比べて，異常な熱放射パターンを示す個体があると警告を発する。例えばＬＳＩのパッケージ割れやヒートシンクの取り付け不良などを見つけられる。ＴＥＬ（０３）５４９６−７１２０価格は１８００万円から出荷中ｗｗｗ．ｐｈｏｔｏｎｄｙｎ…
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