Ｎｅｗ　Ｐｒｏｄｕｃｔｓ〜アナ・デジ混在テスタ　試験速度は最大５００ＭＨｚ，８個同時に試験可能
日経エレクトロニクス　第802号　2001.8.13

この記事の情報
掲載誌	日経エレクトロニクス　第802号（2001.8.13）
ページ数	1ページ　（全202字）
形式	PDFファイル形式　（121kb）
雑誌掲載位置	54ページ目

アドバンテストは，最大５００ＭＨｚの試験速度で，最大８個のＬＳＩに対し，アナログ・デジタル混在の試験が可能なテスタ「Ｔ６６７３」を発売した。携帯電話機のベースバンド処理ＬＳＩなどに向ける。分解能１６ビットの任意波形発生器や波形デジタイザをオプションで用意した。ＴＥＬ（０３）３３４２−７５００オプションにより１億５０００万円〜３億５０００万円出荷中ｗｗｗ．ａｄｖａｎｔｅｓｔ．ｃｏ．ｊｐ資料請求番号Ｎ…