新製品ニュース〜分解能0.7mmの近傍磁界測定装置 EMI対策に使える
日経エレクトロニクス 第770号 2000.5.22
掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第770号(2000.5.22) |
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ページ数 | 1ページ (全627字) |
形式 | PDFファイル形式 (194kb) |
雑誌掲載位置 | 75ページ目 |
日立デバイスエンジニアリングは,分解能が0.7mmの近傍磁界測定装置「EMI TESTER(型名はEMV─200)」を発売した。LSIパッケージのワイヤ・ボンディングやプリント回路基板の信号配線に流れる電流が作る磁界を検出することができる。 磁界の検出には,ループ・アンテナを利用したプローブを使う。ループ・アンテナの口径を小さくすることで,0.7mmの分解能を実現した。開発した装置は,被測定物の…
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