新製品ニュース〜 ６４個同時測定が可能な Ｒａｍｂｕｓ仕様ＤＲＡＭ向けメモリ・テスタ
日経エレクトロニクス 第766号 2000.3.27
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第766号（2000.3.27） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全488字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （167kb） |
| 雑誌掲載位置 | 78ページ目 |
米Ｓｃｈｌｕｍｂｅｒｇｅｒ Ｌｔｄ．は，同社にとって２機種目に当たる，Ｒａｍｂｕｓ仕様ＤＲＡＭ向けメモリ・テスタ「ＲＤＸ２４００」を発売した。前機種の「ＲＤＸ２２００」は８個の同時測定が可能だったが，今回の機種は６４個の同時測定を可能にした（テスト・ヘッド２個の場合）。同社はテスタの価格を公表していないが，今回の機種は前機種の２倍以内の価格になるという。 同時測定数が８倍になったにもかかわらず，…
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