ＮＥＴｓレポート〜テスト・パターンの記述を 抽象化してＡＳＩＣを検証 二つの検証技術を使い分けて，検証効率を向上
日経エレクトロニクス 第745号 1999.6.14
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第745号（1999.6.14） |
|---|---|
| ページ数 | 2ページ （全1802字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （25kb） |
| 雑誌掲載位置 | 170〜171ページ目 |
１チップに２０００万ゲートに及ぶ大規模な回路を搭載できる０．１８ｎｍ時代のＡＳＩＣ設計に向けた，機能検証の効率を向上できる機能検証ツールを米Ｃａｄｅｎｃｅ Ｄｅｓｉｇｎ Ｓｙｓｔｅｍｓ，Ｉｎｃ．が発売する。「Ａｆｆｉｒｍａ ベリフィケーション・コックピット」と呼ぶこのツールは，従来の機能シミュレータと比べて検証効率を向上させるための二つの技術を盛り込んでいる。一つは，詳細な信号レベルのテスト・パタ…
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