技術速報〜三菱電機が進化的計算手法をメモリ・チップの量産テストに活用, テスト項目の最適化時間を大幅に改善
日経エレクトロニクス 第741号 1999.4.19
掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第741号(1999.4.19) |
---|---|
ページ数 | 1ページ (全534字) |
形式 | PDFファイル形式 (42kb) |
雑誌掲載位置 | 20ページ目 |
三菱電機は,DRAMやSRAMといったメモリ・チップの量産テストに,進化的計算(EC:evolutionary computation)手法を適用し,同テストの効率化を図った。1998年10月に量産テストへの適用を始めた。EC手法は,テスト項目の最適化処理に使う。この処理の作業時間が,従来に比べて1/100に短縮できたという。同社は,今回の手法を社外へも有償で提供していく。 メモリ・チップのテス…
記事の購入(ダウンロード)
購入には会員登録が必要です 会員登録はこちら
価格 330円(税込)
他のIDで購入する
G-Search ミッケ!は雑誌を記事ごとに販売するサービスです。
この記事は「1ページ(全534字)」です。ご購入の前に記事の内容と文字数をお確かめください。
(注)特集のトビラ、タイトルページなど、図案が中心のページもございます。
- 技術速報〜米Microsoft社,音楽配信に向けて「Virtual Jukebox」構想を発表, 携帯型プレーヤ用APIや著作権管理技術などをWindowsに装備へ
- 技術速報〜車載情報機器のインタフェース規格標準化を目指すAMIC, 車内LANでプラスチック光ファイバの採用などを検討へ
- 技術速報〜米OVI,米Cadence社の形式をベースに EDA向け設計制約条件の標準化に乗り出す
- 技術速報〜 32/64ビット幅で133MHz動作の「PCI─X」がPCIバスの追加仕様へ, 新たに米Intel社が草案策定のメンバに加わる
- 技術速報〜KDD研究所,複数の動画ストリームを高速一覧表示する 逆DCT技術を実用化,復号化時の雑音を2〜3dB向上