スペシャルレポート〜説明に困らないテスト技法
日経コンピュータ 第859号 2014.5.1
掲載誌 | 日経コンピュータ 第859号(2014.5.1) |
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ページ数 | 4ページ (全3018字) |
形式 | PDFファイル形式 (1516kb) |
雑誌掲載位置 | 132〜135ページ目 |
テストを十分実施したのにバグが見つかる─。多くのIT担当者が経験していることだ。再発防止策としてテストケースを増やしても、本質的な解決にはならない。では、どうすればいいのか。目指すは、組み合わせ網羅率の高いテストを実施することだ。そうすれば想定外を激減させ、テストの説明にも困らなくなる。 左ページのイラストは架空のやり取りだが、皆さんのところで似たような会話がなされていないだろうか。開発者からすれ…
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