焦点〜応用地質が簡便で高精度な地盤調査法を開発 地面をたたけば「地盤」が見える
日経ホームビルダー 第44号 2003.2.1
掲載誌 | 日経ホームビルダー 第44号(2003.2.1) |
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ページ数 | 2ページ (全881字) |
形式 | PDFファイル形式 (359kb) |
雑誌掲載位置 | 10〜11ページ目 |
地質調査の最大手である応用地質(東京・文京区)が、表面波探査法を使った簡便かつ高精度な地盤調査法を開発した。従来の地盤調査とは違い、地盤の「断面図」を見られるのが最大の特徴。一般的な宅地なら1時間程度で調査でき、測定器に内蔵した解析ソフトによって、その場で解析図を見られる。同社では「住宅地盤の調査に最適」と、目下売り込み中だ。 敷地の対角線上にメジャーを敷き、その下の地盤断面を測定する。メジャー…
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