Ｎｅｗ Ｐｒｏｄｕｃｔｓ ３１個のＬＥＤの色度と輝度を３００ｍｓで測定〜３１個のＬＥＤの色度と輝度を３００ｍｓで測定 ＬＥＤ性能測定システム「ＭＥＬＯＴ」
日経マイクロデバイス 第255号 2006.9.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第255号（2006.9.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全594字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （335kb） |
| 雑誌掲載位置 | 113ページ目 |
ＬＥＤ（ｌｉｇｈｔ ｅｍｉｔｔｉｎｇ ｄｉｏｄｅ）の色度と輝度を高速に測定でき，全数測定を可能にしたＬＥＤ性能測定システム（図５）。液晶パネル向けＬＥＤバックライトの輝度や色の均一性向上に向けたＬＥＤ光源の生産管理に使える。測定時間は，３１個のＬＥＤを測定する場合，約３００ｍｓである。従来は，分光光度計やＣＣＤカメラを使って測定していたが，測定時間が１個のＬＥＤ当たり５００ｍｓ以上と長く，価格も…
記事の購入（ダウンロード）
購入には会員登録が必要です 会員登録はこちら
価格 330円（税込）
他のIDで購入する
G-Search ミッケ！は雑誌を記事ごとに販売するサービスです。
この記事は「1ページ（全594字）」です。ご購入の前に記事の内容と文字数をお確かめください。
（注）特集のトビラ、タイトルページなど、図案が中心のページもございます。
- Ｎｅｗ Ｐｒｏｄｕｃｔｓ １００ＭＨｚ幅の信号をＰＣで生成〜１００ＭＨｚ幅の信号をＰＣで生成 信号発生器「Ｒ＆Ｓ ＡＦＱ１００Ａ」
- Ｎｅｗ Ｐｒｏｄｕｃｔｓ 基板温度の面内均一性を向上〜基板温度の面内均一性を向上 「モジュール型温度調節計 形ＥＪ１Ｇ」
- Ｎｅｗ Ｐｒｏｄｕｃｔｓ アナログ検証の進み具合をチェック〜アナログ検証の進み具合をチェック アナログ検証用ユーティリティ群「Ｏｐａｌ」
- Ｗａｔｃｈｅｒ［Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ］ ウォッチャ〜上半期の世界半導体売上高 前年同期比８．３％増も 米Ｉｎｔｅｌの減収で不透明感
- Ｗａｔｃｈｅｒ［Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ］ ウォッチャ〜台湾・中国 中根レポート 台湾ＣＭＯの第２四半期決算 テレビ向け需要が落ち込み 前期比で大幅な減収減益
Ｎｅｗ Ｐｒｏｄｕｃｔｓ １００ＭＨｚ幅の信号をＰＣで生成〜１００ＭＨｚ幅の信号をＰＣで生成 信号発生器「Ｒ＆Ｓ ＡＦＱ１００Ａ」
Ｎｅｗ Ｐｒｏｄｕｃｔｓ 基板温度の面内均一性を向上〜基板温度の面内均一性を向上 「モジュール型温度調節計 形ＥＪ１Ｇ」
Ｎｅｗ Ｐｒｏｄｕｃｔｓ アナログ検証の進み具合をチェック〜アナログ検証の進み具合をチェック アナログ検証用ユーティリティ群「Ｏｐａｌ」
Ｗａｔｃｈｅｒ［Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ］ ウォッチャ〜上半期の世界半導体売上高 前年同期比８．３％増も 米Ｉｎｔｅｌの減収で不透明感
Ｗａｔｃｈｅｒ［Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ］ ウォッチャ〜台湾・中国 中根レポート 台湾ＣＭＯの第２四半期決算 テレビ向け需要が落ち込み 前期比で大幅な減収減益
