New Products 検査スループットを2倍に〜検査スループットを2倍に 液晶ドライバIC検査装置「ST6730 2400ピン仕様」
日経マイクロデバイス 第253号 2006.7.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第253号(2006.7.1) |
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ページ数 | 1ページ (全564字) |
形式 | PDFファイル形式 (332kb) |
雑誌掲載位置 | 159ページ目 |
同時測定できる液晶ドライバICのピン数を,従来の1344ピンから2400ピンに増やしてスループットを高めた検査装置(図5)。ドライバICのウエーハ・テストや最終テストに使える。ピン数を2400に増やしたことで,1040ピンのQVGA(320×240画素)パネルのドライバICや,1120ピンのWQVGA(400×240画素)パネルのドライバICを2個同時に測定できるようにした。この結果,検査工程の…
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