Ｔｅｃｈ−Ｏｎ！Ｒａｎｋｉｎｇ［ＬＳＩ］〜みずほ情報総研のＴＥＧ解析支援システム ＬＳＩ大手２社が導入
日経マイクロデバイス 第248号 2006.2.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第248号（2006.2.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全340字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （274kb） |
| 雑誌掲載位置 | 89ページ目 |
ＴＥＧ（ｔｅｓｔ ｅｌｅｍｅｎｔ ｇｒｏｕｐ）による測定データ解析を支援し，プロセスの立ち上げを迅速化する「ＦａｂＭｅｉｓｔｅｒ−ＴＧ（電気特性評価システム）」をみずほ情報総研が開発した。既に３００ｍｍウエーハ工場を持つ大手ＬＳＩメーカー２社が導入済みとする。今回のシステムは，膨大な測定データを効率良く，素早く解析できるという。Ｗｅｂベースのシステムで，部署を超えて解析手法・結果の情報を共有化で…
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