特別企画 Ｐａｒｔ２ インタビュー〜ＤＲＡＭ，ＳｏＣ，画像，車載 各種テスターを展開
日経マイクロデバイス 第210号 2002.12.1
| 掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第210号（2002.12.1） |
|---|---|
| ページ数 | 1ページ （全786字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （253kb） |
| 雑誌掲載位置 | 79ページ目 |
ＤＲＡＭ市場におけるダブル・データ・レート方式のシンクロナスＤＲＡＭ（ＤＤＲ−ＳＤＲＡＭ）の立ち上がり，ＳｏＣ（ｓｙｓｔｅｍ ｏｎ ａ ｃｈｉｐ）向けでのシェア拡大，画像・車載ＬＳＩ向けテスター市場の開拓。２００３年は，全体的には厳しい市場環境が続くことを覚悟しておかないといけないが，個々に見ると期待できる要素が出てきた。ここへ向けて，ビジネスの舵を切っていきたい。 ここ数年の投資抑制でＬＳＩ各…
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