インタビュー〜失敗は隠さずに活用する
日経マイクロデバイス　第195号　2001.9.1

この記事の情報
掲載誌	日経マイクロデバイス　第195号（2001.9.1）
ページ数	2ページ　（全2706字）
形式	PDFファイル形式　（53kb）
雑誌掲載位置	22〜23ページ目

「Ｈ−ＩＩロケットの度重なる打ち上げ失敗」。「原子炉『もんじゅ』のナトリウム漏洩事故」。科学技術の粋（すい）を集めたはずの分野で起きたこれらの不祥事は，「技術立国日本」の信頼を揺るがせた。そこで重要性を指摘されたのが，失敗を活用する考え方である。文部科学省はその実践に向けた「失敗知識活用研究会」を発足，７月に報告書を出した。結論は，「技術が複雑になるほど失敗を活用する仕組みが不可欠になる」（同研究…