連載[マニュファクチャリング]〜装置状態のチェック技術で システムLSIを確実に作る
日経マイクロデバイス 第191号 2001.5.1
掲載誌 | 日経マイクロデバイス 第191号(2001.5.1) |
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ページ数 | 6ページ (全7159字) |
形式 | PDFファイル形式 (222kb) |
雑誌掲載位置 | 154〜159ページ目 |
システムLSI製造製造装置システムLSI時代を勝ち抜いていくためには,「速さ」と「確実さ」を向上させる必要がある。2回目の今回は,そのための製造装置の状態を観測する二つの新技術を述べる。一つは,製造装置内でのパーティクルをその場で観測する手法である。パーティクル・フリーを実現し,歩留まり低下を防止する施策立案,効果検証に有効である。もう一つは,コンタクトあるいはビアのエッチング装置の状態を,ウエー…
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