Ｇｕｅｓｔ Ｐａｐｅｒ〜Ｎｏｋｉａ社が語る ソフトウエア・テストへの取り組み
日経エレクトロニクス 第937号 2006.10.23
| 掲載誌 | 日経エレクトロニクス 第937号（2006.10.23） |
|---|---|
| ページ数 | 11ページ （全16138字） |
| 形式 | PDFファイル形式 （536kb） |
| 雑誌掲載位置 | 135〜145ページ目 |
Ｔｈｏｍａｓ ＤｅｉｓｓＡｎｄｒｅａｓ Ｊ． ＮｙｂｅｒｇＳｔｅｐｈａｎ ＳｃｈｕｌｚＣｏｌｉｎ ＷｉｌｌｃｏｃｋフィンランドＮｏｋｉａ Ｒｅｓｅａｒｃｈ ＣｅｎｔｅｒＲｉｓｔｏ ＴｅｉｔｔｉｎｅｎフィンランドＮｏｋｉａ ＮｅｔｗｏｒｋｓＴｈｅ ｆｏｌｌｏｗｉｎｇ ａｒｔｉｃｌｅ，ｅｎｔｉｔｌｅｄ “Ｉｎｄｕｓｔｒｉａｌ Ｄｅｐｌｏｙｍｅｎｔ ｏｆ ｔｈｅ ＴＴＣＮ−３ Ｔｅｓｔｉｎｇ Ｔｅｃｈｎ…
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